Mejora del rendimiento de iones intactos y de la sensibilidad de la superficie mediante SIMS de grupos de argandoacute;n

Mochiji de Kozo

ISSN: 2155-9872

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Abstracto

Mejora del rendimiento de iones intactos y de la sensibilidad de la superficie mediante SIMS de grupos de argón

Mochiji de Kozo

En la espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) de muestras orgánicas, los daños inducidos por los iones primarios son cruciales. La masa de iones intactos (iones secundarios no disociados) detectables actualmente es de solo 1000 Da en el mejor de los casos, lo que impide que la técnica se extienda para aplicarse a moléculas orgánicas con mayor masa. Desarrollamos un equipo SIMS en el que los iones primarios eran iones de racimo de argón que tenían una energía cinética por átomo controlada hasta 1 eV. Al aplicar este equipo a varios péptidos y proteínas, la intensidad de los iones de fragmento se redujo en un factor de 102 cuando la energía cinética por átomo se redujo por debajo de 5 eV, y se detectaron iones intactos de citocromo C (peso molecular: 12 327) y quimotripsina (peso molecular: 25 000) sin usar ninguna matriz. Además, descubrimos que los iones de racimo de argón pulverizan una capa ultrafina (~ 2 nm) de material orgánico y mejoran la sensibilidad de la superficie en SIMS. Con base en los resultados anteriores, se analiza la perspectiva futura del proyectil de racimo de argón para SIMS.

Descargo de responsabilidad: este resumen se tradujo utilizando herramientas de inteligencia artificial y aún no ha sido revisado ni verificado.